詳細(xì)摘要： 壓力測(cè)試規(guī)可以精準(zhǔn)的測(cè)量出晶圓背壓力值，適用于SH系列夾具。有助于操作員精準(zhǔn)設(shè)置樣品負(fù)載，實(shí)現(xiàn)高質(zhì)量的磨拋效果。
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：北京市更新時(shí)間：2024-10-11 在線留言北京艾姆希半導(dǎo)體科技有限公司
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北京艾姆希半導(dǎo)體科技有限公司
詳細(xì)摘要： 壓力測(cè)試規(guī)可以精準(zhǔn)的測(cè)量出晶圓背壓力值，適用于SH系列夾具。有助于操作員精準(zhǔn)設(shè)置樣品負(fù)載，實(shí)現(xiàn)高質(zhì)量的磨拋效果。
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詳細(xì)摘要： 激光平面干涉儀是一種使用方便的光學(xué)精密計(jì)量?jī)x器，主要用于精密測(cè)量光學(xué)平面度。該儀器可用于光學(xué)車間、實(shí)驗(yàn)室、計(jì)量室。
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詳細(xì)摘要： 采用氣脈沖式非接觸測(cè)量，可以避免接觸測(cè)量引起的表面損傷，特別適用于軟脆材料及對(duì)樣品表面質(zhì)量要求高的樣品測(cè)量，是半導(dǎo)體、光學(xué)及電光材料等非常理想的測(cè)量?jī)x器。
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詳細(xì)摘要： 采用接觸測(cè)量，測(cè)量精度可實(shí)現(xiàn) 1 微米，儀器操作簡(jiǎn)單，性能穩(wěn)定。適用于各種環(huán)境，底座耐酸耐堿，是半導(dǎo)體、光學(xué)及電光材料等常用的測(cè)量?jī)x器。
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